By Atılım Üniversitesi, araştırma kültürünü teşvik etmek ve öğrenci projelerini desteklemek gayesiyle düzenlediği Atılım Araştırma Günü (ATAG 2025) kapsamında akademi ve bölüm temsilcilerini bir ortaya getirdi.
Üniversiteden yapılan açıklamaya nazaran, bu yıl 5’incisi gerçekleştirilen aktiflikte, üniversitenin araştırma temelli eğitim anlayışı çerçevesinde hazırlanan öğrenci projeleri ve akademik çalışmalar iştirakçilerle buluştu.
Kemal Zaim Konferans Salonu’nda gerçekleşen aktifliğe, Atılım Üniversitesi Mütevelli Heyet Başkanı Yalçın Zaim, Mütevelli Heyet Üyeleri, Atılım Üniversitesi Rektörü Prof. Dr. Serkan Eryılmaz, Rektör Yardımcıları, Dekanlar, Türk Patent ve Marka Kurumu Lider Yardımcısı Dr. Mehmet Duyar, TÜBİTAK ARDEB Lider Yardımcısı Prof. Dr. Nurper Güz başta olmak üzere akademisyenler, öğrenciler ve dal temsilcileri katıldı.
Etkinlikte Atılım Üniversitesi’nin öz kaynaklarıyla desteklenen ve öğrencilerin yürütücüsü olduğu 80’i aşkın araştırma ve geliştirme projesi poster sunumlarıyla tanıtıldı. Firmalar ise açtıkları stantlarla öğrenci ve akademisyenlerle direkt bağlantı kurma imkanı buldu.
Programın sonunda, “Su” temasıyla gerçekleştirilen Akademik Yıl Teması Öğrenci Araştırma Projeleri Müsabakası’nda dereceye giren öğrencilere plaket takdim edildi.
Etkinliğin açılış konuşmasını yapan Rektör Prof. Dr. Serkan Eryılmaz, Atılım Üniversitesi araştırma ekosistemine ve araştırma odaklı eğitim yaklaşımının Atılım Üniversitesi’ne has programlarına değindi.
Eryılmaz ayrıyeten dış fonlara dayalı olarak dayanak alan Atılım Üniversitesi öğrenci ve akademisyen projelerinin sayısındaki artışa vurgu yaptı.
Türk Patent ve Marka Kurumu Lider Yardımcısı Dr. Mehmet Duyar, “Türkiye Fikri Mülkiyet Ekosistemi” başlıklı sunumunda, fikri hakların araştırma süreçlerindeki değeri, patent ve marka sistemlerinin işleyişi hakkında bilgi verdi.
TÜBİTAK ARDEB Lider Yardımcısı Prof. Dr. Nurper Güz ise “TÜBİTAK Araştırma Dayanak Programları” bahisli sunumuyla, araştırmacılara yönelik teşvik ve fon düzenekleri hakkında açıklamalar yaptı.
